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荧光X线膜厚仪

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产品名称: 荧光X线膜厚仪
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简单介绍



荧光X线膜厚仪的详细介绍

 荧光X线膜厚仪

品牌: 日本电测
产品介绍:
中文视窗操作测量系统
解析度0.001μm
最小测量面积0.1mmφ
可测量合金层之厚度和组成比例
可测量两层以上镀层之个别厚度
籍由光谱分析可判定被测物之元素
适用对象:IC导线架、封装业、PCB业、精密零件业、电镀业、电子业  

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